2012-07-01

ULSI所论文被国际顶级器件会议录用

日前,半导体器件与电路领域两大顶级会议之一的VLSI-Technology会议在美国夏威夷召开,微电子学研究院ULSI所博士生邹积斌同学的论文被收录,指导老师为王阳元院士,黄如教授。

据了解,ULSI所的论文连续几年在VLSI-Technology会议上发表,证明该所在世界半导体器件研究领域占有一席之地。收录的这篇文章是关于纳米器件随机电报噪声的表征及建模,是国际硅基器件可靠性及涨落研究的热点问题。

VLSI-Technology在美国每年召开一次,是电子器件与电路领域的旗舰会议。INTELIBMAMDSAMSUNG等国际知名半导体公司和国际著名大学都会在该会议上发表最新的技术和研究成果。


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